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德國(guó)bst-procontrol傳感器IREX-RS/CW/XCMONESPLIT
厚度測(cè)量
厚度測(cè)量有許多可能性,包括傳輸方法,超聲波和紅外傳感器以及光學(xué)三角測(cè)量原理。
INDIAIR傳感器
測(cè)量系統(tǒng)由上下傳感器組成。后者是磁/渦流間隔系統(tǒng),其確定到參考板的距離,參考板又是上傳感器的一部分。兩個(gè)傳感器之間的片材影響板的*部和底部之間的距離,從而可以提供原始測(cè)量信號(hào)。
INDISPECTRO
測(cè)量基于光學(xué)層厚度與光波長(zhǎng)的比較。入射在透明層上的光在上界面和下界面處部分反射。
INDIRAY 標(biāo)準(zhǔn)X射線傳感器<5KV /擴(kuò)展范圍
紅外反向散射傳感器IREX-RS / CW /XCMONESPLIT 相同點(diǎn)技術(shù)
紅外傳感器通常作為反向散射傳感器提供,具體取決于應(yīng)用,但也可以作為傳輸傳感器的結(jié)構(gòu)。CONESPLIT SameSpot技術(shù)基于**測(cè)量方法,用于直接(選擇性)在線涂層厚度測(cè)量,是BST ProControl**的賣點(diǎn)。
當(dāng)通過透射方法測(cè)量時(shí),發(fā)射器和檢測(cè)器彼此相對(duì)安裝,待測(cè)材料置于其間。輻射被待測(cè)材料衰減,衰減取決于待測(cè)材料的密度,厚度和成分。
超聲波傳感器
傳感器根據(jù)脈沖回波測(cè)量方法工作,即發(fā)射超聲脈沖,由測(cè)量對(duì)象反射并再次接收。從脈沖的持續(xù)時(shí)間開始,測(cè)量物體的距離被確定為傳感器。
激光傳感器
傳感器基于三角測(cè)量方法。這里,聚焦紅外光束在待測(cè)材料上產(chǎn)生光點(diǎn),其反射部分由傳感器中的PSD / CCD檢測(cè)器檢測(cè)。檢測(cè)器的檢測(cè)允許***計(jì)算到待測(cè)材料的距離。
同位素反向散射傳感器
同位素反向散射傳感器是用于基重測(cè)量的非接觸式測(cè)量方法?;谟纱郎y(cè)材料反向散射的放射性輻射部分,確定基重。
基于攝像頭的傳感器
DELTA MASTER 3傳感器使用光學(xué)三角測(cè)量原理。可以通過將精細(xì)的測(cè)量線投射到材料上并通過幾何超穩(wěn)定的矩陣CCD相機(jī)進(jìn)行檢測(cè)來測(cè)量表面。測(cè)量數(shù)據(jù)的評(píng)估基于數(shù)字圖像處理的方法。
SHADEX傳感器
非接觸式測(cè)量原理基于線性扇出激光束的***定義。產(chǎn)品的厚度導(dǎo)致測(cè)量范圍內(nèi)的陰影,并且對(duì)接收二*管有成比例的影響。距離測(cè)量系統(tǒng)補(bǔ)償傳感器和參考輥之間的距離變化,由此在特殊信號(hào)處理方法中評(píng)估值,并且可以***地確定材料厚度。
PC16S 波
發(fā)射傳感器PC16S -wave措施的基礎(chǔ)重量或厚度flachbahniger材料,并使用用于非接觸測(cè)量過程非電離,電磁波。這使其成為***和快速測(cè)量聚合物基單膜的理想選擇。與基于電離輻射的傳感器相比,該傳感器***了運(yùn)輸,操作和處置所需的國(guó)家或國(guó)際法規(guī)要求。
涂層厚度測(cè)量
在涂層厚度測(cè)量領(lǐng)域,除紅外傳感器和傳輸傳感器外,BST-ProControl還提供光學(xué)層厚度與光波長(zhǎng)的比較。
密度測(cè)量
此外,在密度測(cè)量領(lǐng)域,非接觸式測(cè)量方法和用于直接(選擇性)在線涂層厚度測(cè)量的**方法也是合適的
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